[公司动态] 东电检测软件与信息安全实验室揭牌成立,助力企业产业数字化安全升级!
4月18日,东电检测软件与信息安全实验室(以下简称:实验室)正式揭牌成立。实验室是由东莞市东电检测技术..[公司动态] 10M法电波暗室|东电检测扩充EMC实验室能力,服务再升级!
东电检测10M法电波暗室目前已在东莞松山湖正式投入使用。新建暗室将大幅度提升电磁兼容性(EMC)测试容量..[公司动态] 4年创造7个“增城**”!增科院预计今年孵化总产值将达3.5亿元左右
2018年,电子科技大学广东电子信息工程研究院牵头,联合院士、**高层次人才等建立起增城一家**科技企业孵..[公司动态] 成电检测,增科院汽车电子检测平台积极对接北汽广州技术服务市场
2022年1月22日下午,增科院"汽车电子电气检测服务平台"一行专程拜访北汽(广州)汽车有限公司,积极对接汽..[公司动态] DDT大动作!东电检测与广州增电科学技术研究院成功签定合作项目,进一步扩大环境可靠性试验能力
东莞市东电检测技术有限公司(东电检测)与广州增电科学技术研究院(增科院)成功签定合作项目,进一步扩..[公司动态] DDT东电可靠性,电磁兼容,rf射频实验室_测试能力一览表
东莞市东电检测技术有限公司隶属于电子科技大学广东电子信息工程研究院,作为独立的第三方电子电气产品检..[产品知识] 东电检测/HALT / HASS /HASA 可靠性测试和应用
适用产品范围:1)电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件2)汽车电子电气零部件高加速寿命测试HALTHig..[公司动态] 东莞市东电检测技术有限公司全资子公司,成电检测技术服务(广州)有限公司 —广州. 增城
成电检测技术服务(广州)有限公司(简称:成电检测),是东莞市东电检测技术有限公司的全资子公司,隶属..昌都托盘含水率
本试验用来验证待测物在包装状态,模拟在仓储栈板或运输时包装物的堆放,纸箱所能承受的耐压强度水平。考..汽车零部件 东莞冰水冲击试验
冰水浸没冲击试验箱用于各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐冰水飞溅性试验、耐..海北均载试验
东莞市东电检测技术有限公司(Donuan Dongdian Testing Service Co.,Ltd.简称“DDT”),是一家集检测、校准..汽车零部件 湘潭冰水冲击试验
冰水浸没冲击试验箱冰水飞溅试验与冰水浸没试验的复合试验箱,可单做溅水或浸没试验,模拟冬天当在潮湿的..汽车零部件 南宁冰水冲击试验 测试报告
冰水浸没冲击试验箱用于各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐冰水飞溅性试验、耐..荆州测试机构东电检测
东莞市东电检测技术有限公司(Donuan Dongdian Testing Service Co.,Ltd.简称“DDT”),是一家集检测、校准..濮阳3米电波法通信无线类产品RF测试 车载电子电性能试验 东电检测
我司拥有多个射频屏蔽室以及多套的无线通信测试系统,测试能力覆盖GSM/CDMA/CDMA2000/WCDMA/TD-SCDMA/LTE/..平凉东电检测
a.静态压缩模拟集装箱堆放栈板时,在一定之时间内,承受固定之压力,观察外箱的变形量是否会影响内部产品..兴安盟垫块冲击
东莞市东电检测技术有限公司(Donuan Dongdian Testing Service Co.,Ltd.简称“DDT”),是一家集检测、校准..湘西蓝牙RF测试电磁兼容检测认证 车载电子磁场抗扰度试验 天津东电检测
EN 301 908 -1 / 2 / 13配备来自瑞士EMC、德国美国等世界仪器厂商的测试设备和仪器,尤其在无线射频RF有的..产品描述
扫描电子显微镜(SEM)是用细聚焦的高能电子束轰击试样表面,通过电子与试样相互作用产生的二次电子、背散射电子信息对试样表面或断口进行微区形貌及结构的观察 。现在的SEM一般都与EDS组合,利用EDS进行元素成分定性、定量分析;可应用于材料高分辨成像、电子产品如PCB板/FPC、半导体,光电材料、通讯行业材料形貌/腐蚀/微污染分析,微区元素打点分析/特定元素沿深度方向的线扫描,元素的面分布。 扫描电子显微镜的原理是依据电子与物质的相互作用。 当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、X光信号、背散射电子、透射电子, 以及在可见、 紫外、 红外光区域产生的电磁辐射。根据信号强度组成形貌照片,能高倍率观察表面外观形貌。 原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息。 能谱仪的工作原理:探头接受特征X射线信号→把特征X射线光信号转变成具有不同高度的电脉冲信号→放大器放大信号→多道脉冲分析器把代表不同能量(波长)X 射线的脉冲信号按高度编入 不同频道→在荧光屏上显示谱线→利用计算机进行定性和定量计算。能谱仪通常作为扫描电子显微镜的附属配件,搭配扫描电子显微镜使用。 通过扫描电子显微镜和搭配使用的能谱仪,可以用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观测并拍摄局部异常照片和测量异常尺寸、测量芯片关键尺寸线宽和孔径、定性和定量分析异常污 染物的化学元素组成。 |
SEM/EDS设备展示
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SEM/EDS分析手段————————————————————————————————————————————————————
主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究,仪器的功能包括:
(1)电子衍射:选区衍射、微束衍射、会聚束衍射;
(2)成像:明场像(BF)、暗场像(DF)、衍射像、高分辨像(HREM)、扫描透射像,环角暗场像(HAADF);
(3)微区成分:EDS能谱的点、线和面分析;
SEM/EDS应用范围
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(1)材料范围:除磁性材料之外的任何无机材料,包括粉体、薄膜和块材;不适用于**和生物材料。
(2)表征范围:微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。
送样须知
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粉末样品基本要求
(1)单颗粉末尺寸较好小于1μm;
(2)无磁性;
(3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压;
块状样品基本要求
(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;
(2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;
(3)无磁性;
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